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        產品詳情
        • 產品名稱:分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

        • 產品型號:MiniTest1100/2100/3100/4100
        • 產品廠商:德國EPK
        • 產品價格:0
        • 折扣價格:0
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        簡單介紹:
        分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
        MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能。所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機。
        詳情介紹:

        分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點
        (德國EPK)MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
        所有型號均可配所有探頭;
        可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
        可使用一片或二片標準箔校準。
         

        分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術參數:
         
        型號 1100 2100 3100 4100
        MINITEST 存儲的數據量
        應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 1 1 10 99
        每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值) - 1 10 99
        可用各自的日期和時間標識特性的組數 - 1 500 500
        數據總量 1 10000 10000 10000
        MINITEST統計計算功能
        讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar -
        讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
        組統計值六種x,s,n,max,min,kvar - -
        組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
        存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 - - -
        分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 - -
        顯示并打印測量值、打印的日期和時間 -
        其他功能
        透過涂層進行校準(CTC) -
        在粗糙表面上作平均零校準
        利用計算機進行基礎校準
        補償一個常數(Offset) - -
        外設的讀值傳輸存儲功能 -
        保護并鎖定校準設置
        更換電池是存儲數值
        設置極限值 - -
        公英制轉換
        連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別大小值 - -
        連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 - -
        浮點和定點方式數據傳送
        組內單值延遲顯示 -
        連續測量模式中顯示小值
        F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
        N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
        FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

        注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
        N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
        CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 
        分體式涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100探頭選型表:
        探頭 量程 低端
        分辨率
        誤差 半徑(凸/凹) 小測量
        區域直徑
        小基
        體厚度
        探頭尺寸



        法  < 
        F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm)   3mm 0.2mm φ15x62mm
        F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   5mm 0.5mm φ15x62mm
        F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   5mm 0.5mm φ8x170mm
        F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm)   5mm 0.5mm φ15x62mm
        F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm)   20mm 1mm φ25x46mm
        F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm)   40mm 2mm φ40x66mm
        F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm)   300mm 2mm φ45x70mm


             
        FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
        N50μm
        φ15x62mm
        FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   30mm F0.5mm
        N50μm
        φ21x89mm
        FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm)   5mm F0.5mm
        N50μm
        φ15x62mm



        法                  
        N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm)   2mm 50μm φ16x70mm
        N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm)   2mm 100μm φ15x62mm
        N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   2mm 50μm φ15x62mm
        N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm)   5mm 50μm φ13x170mm
        N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm)   50mm 50μm φ60x50mm
        N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm)   70mm 50μm φ65x75mm
        N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm)   200mm 50μm φ126x155mm
        CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm)   7mm 無限制 φ17x80mm

         
        探頭圖示
         
        FN1.6
        0~1600μm,φ5mm
        兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

         
        FN1.6P
        0~1600μm,φ30mm
        兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


         
        F05
        0~500μm,φ3mm
        磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
        量程低端分辨宰很高(0.1μm)

         
        F1.6
        0~1600μm,φ5mm
        磁性測頭
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

         
        F3
        0~3000μm,φ5mm
        磁性測頭
        可用于較厚的覆層

         
        F1.6/90
        0~1600μm,φ5mm
        90度磁性測頭
        尤其適合于在管內壁測量
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

         
        F10
        0~10mm,φ20mm
        適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


         
        F20
        0~20mm,φ40mm
        適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

         
        F50
        0~50mm,φ300mm
        適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

         
        N02
        0~200μm,φ2mm
        非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

         
        N0.8Cr
        0~80μm,φ2mm
        適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

         
        N1.6
        0~1600μm,φ2mm
        非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

         
        N1.6/90
        0~1600μm,φ5mm
        磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
        尤其適合在管內壁測量
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

         
        N10
        0~10mm,φ50mm
        非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

         
        N20
        0~20mm,φ70mm
        非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

         
        N100
        0~100mm,200mm
        非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
         
        CN02
        10~200μm,φ7mm
        用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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        滬公網安備 31011702004270號

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