產品目錄
- 頻率特性分析儀
- 露點儀
- 顯微鏡
- 光伏測試儀
- 存儲記錄儀
- 功率計
- 微歐計
- 電氣安裝測試儀
- LCR測試儀
- 耐壓絕緣測試儀
- 接地電阻測試儀
- 電池測試儀
- 泄漏電流測試儀
- 數字兆歐表
- 多功能測試儀
- 萬用表
- 鉗表
- 示波器
- 信號源
- 頻譜分析儀
- 直流電源
- 相序表
- 硬度計
- 超聲波測厚儀
- 涂層測厚儀
- 電火花檢測儀
- 粗糙度儀
- 附著力測試儀
- 光澤度儀
- 測振儀
- 張力儀
- 推拉力計
- 扭力測試儀
- 超聲波探傷儀
- 頻閃儀
- 紅外熱像儀
- 紅外測溫儀
- 溫濕度計
- 照度計
- 噪音計
- 風速儀
- 氣體檢測儀
- 煙氣分析儀
- 粒子計數器
- 差壓儀
- 網絡測試儀
- 電纜測試儀
- 電子天平
- 轉速表
- 過程校驗儀
- 激光測距儀
- 酸度計
- 電導率儀
- 粘度計
- 化學分析儀器
- 便攜式濁度儀
- 水份儀
- 高斯計
- 電力質量分析儀
產品詳情
簡單介紹：
阻抗分析儀IM7580介紹：
IM7580高可測300MHz的高頻，是能應對高頻化發展的電子元器件的產品。通過IM7580快0.5ms（0.0005秒）的高速測量速度，可以更快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產效率。
詳情介紹：
阻抗分析儀IM7580介紹：
HIOKI推出阻抗分析儀IM7580。IM7580高可測300MHz的高頻，是能應對高頻化發展的電子元器件的產品。通過IM7580快0.5ms（0.0005秒）的高速測量速度，可以更快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產效率。
阻抗分析儀IM7580主要特點：
300MHz世界快、通過高速測量和高反復精度縮短工時、加速生產
測量頻率1MHz~300MHz
測量時間：快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580專用的測試治具。
阻抗分析儀IM7580技術參數：
| 測量模式 | LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量 |
| 測量參數 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 顯示范圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 測量頻率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進) |
| 測量信號電平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms |
| 輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) |
| 顯示 | 彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
| 測量時間 | 快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值 |
| 功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
| 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 體積和重量 | 主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1 |
