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      產品詳情
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      • 產品名稱:阻抗分析儀IM7580

      • 產品型號:IM7580
      • 產品廠商:日本日置
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      簡單介紹:
      阻抗分析儀IM7580介紹: IM7580高可測300MHz的高頻,是能應對高頻化發展的電子元器件的產品。通過IM7580快0.5ms(0.0005秒)的高速測量速度,可以更快速的檢查大批量的電子元器件,從而大幅提高電子元器件廠家的生產效率。
      詳情介紹:
       

      阻抗分析儀IM7580介紹:

      HIOKI推出阻抗分析儀IM7580。IM7580高可測300MHz的高頻,是能應對高頻化發展的電子元器件的產品。通過IM7580快0.5ms(0.0005秒)的高速測量速度,可以更快速的檢查大批量的電子元器件,從而大幅提高電子元器件廠家的生產效率。

      阻抗分析儀IM7580主要特點:

      300MHz世界快、通過高速測量和高反復精度縮短工時、加速生產

      測量頻率1MHz~300MHz
      測量時間:快0.5ms
      基本精度±0.72%rdg.
      緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
      豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
      使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量


       主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580專用的測試治具。

      阻抗分析儀IM7580技術參數:
       
      測量模式 LCR(LCR測量),分析(掃頻測量),連續測量
      測量參數 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
      精度保證范圍 100 mΩ~5 kΩ
      顯示范圍 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
      Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
      θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
      D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
      G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
      基本精度 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
      測量頻率 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進)
      測量信號電平 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
      電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
      電流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms
      輸出阻抗 50 Ω (10 MHz時)
      顯示 彩色TFT8.4英寸、觸屏
      測量時間 快0.5ms(FAST、模擬測量時間、代表值
      功能 接觸檢查、比較器、BIN判定(分類功能)、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償
      接口 EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN
      RS-232C (選件), GP-IB (選件)
      電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
      體積和重量 主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
      測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
      附件 電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1
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      滬公網安備 31011702004270號

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